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透射电镜/透射电子显微镜

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透射电镜/透射电子显微镜

透射电镜/透射电子显微镜

透射电镜/透射电子显微镜(简称TEM),是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像,影像将在放大、聚焦后在成像器件上显示出来。可以看到在光学显微镜下无法看清的小于0.2um的细微结构,这些结构称为亚显微结构或超微结构。
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LVEM5台式透射电子显微镜

LVEM5台式透射电子显微镜

  • 品牌: 捷克Delong Instruments
  • 型号: LVEM5
  • 产地:美国
  • 供应商:QUANTUM量子科学仪器贸易(北京)有限公司

    • 透射电镜(TEM)、电子衍射(ED)、扫描电镜(SEM)、扫描透射电镜(STEM)四种成像模式 • 分辨率:2nm(TEM);3nm(SEM) • Schottky场发射电子枪:高亮度、高对比度 • 观察生物样品无需染色 • 体积仅为传统透射电镜1/10,价格仅为其1/5

日立球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700

日立球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700

  • 品牌: 日立
  • 型号: HD-2700
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    1.整体的解决方案 样品杆与日立FIB兼容,提供了纳米尺度的整体解决方案,从制样到数据获得和最终分析。 2.多种评价和分析功能可选 可同时获得和显示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配备ELV-2000型实时元素Mapping系统(DF-STEM像可以同时获得);可以同时观察DF-STEM像和衍射像;可以配备超微柱头样品杆进行三维分析(360度旋转)等。

JEM-Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜

JEM-Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-Z300FSC
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统,能够在冷冻低温下观察生物大分子。样品交换系统内最多可以存储12个样品,可以任意取出和交换一个或数个样品,能灵活地进行测试排序。

EM-05500TGP TEM断层扫描系统

EM-05500TGP TEM断层扫描系统

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: EM-05500TGP
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    TEM断层扫描系统实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化。为使电子断层扫描特有的各种调整能够自动化,TEM断层扫描系统采用了独特算法的软件(Recorder、Composer和Visualizer-Kai)。

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-ARM300F GRAND ARM
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    JEM-ARM300F实现了世界最高扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率,配备了JEOL自主研发的球差校正器,最高加速电压可达300kV,是一款原子级分辨率电子显微镜。实现了世界最高的STEM-HAADF像分辨率。

JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜

JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-ARM200F NEOARM
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    EM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜,标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。

JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜

JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-Z200FSC
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合,进一步提高了生物样品的衬度。

JEM-1400Flash 透射电子显微镜

JEM-1400Flash 透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-1400Flash
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    JEM-1400Flash 透射电子显微镜配备了高灵敏度sCMOS相机、超广视野的蒙太奇系统以及光学显微镜图像的联动功能,是一款新型的高通量、高分辨率 的120kV透射电子显微镜。

JEM-3200FS 场发射电子显微镜

JEM-3200FS 场发射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-3200FS
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    镜筒内置式Ω型能量过滤器内置于成像透镜系统,能容易地获得能量过滤像和能量损失谱,同时还能获得与传统电子显微镜同等的放大倍率范围。此外、Ω型过滤器的电子光学系统在设计上zui大程度地减少了图像畸变,出厂前还将剩余一点的畸变做了zui后的修正。JEM-3200FS还采用了高灵敏度的相机系统及图像处理系统(选配件),可以构建元素面分布系统及能量损失谱系统。

JEM-2100Plus 透射电子显微镜

JEM-2100Plus 透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-2100Plus
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    日本电子JEM-2100Plus 透射电子显微镜,不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统,还增加了zui新的控制系统,大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JEM-2100Plus性能优越,操作方便,简明易懂,在材料、医学、生物学等多个研究领域提供优异的解决方案。

JEM-F200 场发射透射电子显微镜

JEM-F200 场发射透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-F200
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    JEM-F200 场发射透射电子显微镜,以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

JEM-ARM300F GRAND ARM 透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-ARM300F GRAND ARM
  • 产地:日本
  • 供应商:深圳市蓝星宇电子科技有限公司

    JEM-F200 场发射透射电子显微镜,以节能环保、减排低碳为理念开发的JEM-F200场发射透射电子显微镜,不仅提高了空间分辨率和分析性能,还采用了新的操作系统可满足多种使用途径,易用性强,外观设计精炼,能为不同层次的用户提供新奇的操作体验。

冷场发射透射电镜

冷场发射透射电镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-F200
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    2016年新年伊始,日本电子株式会社(JEOL)即全球同步推出了新款场发射透射电镜JEM-F200。 为了全面整合近年发展起来的透射电镜上的各种功能,JEM-F200进行了全新设计,在保障各种功能达到极限的同时,追求操作的简单化和自动化,为用户提供透射电镜操作的全新体验。具体特点表现为: 1)精炼的全新设计:在提高机械和电气稳定性的同时,凭借对透射电镜的丰富经验,对电镜整体进行了精炼全新设计,力求为用户提供全新感受; 2) 四级聚光镜设计:为了最大程度发挥出STEM功能,JEM-F200进行了全新概念的四级聚光镜设计,亮度和汇聚角可以分别控制; 3)高端扫描系统:在照明系统扫描功能之上又增加了成像系统的扫描功能(选购件)可以获得大范围的STEM-EELS; 4)皮米样品台控制:标配的压电陶瓷控制样品台,可以在原子尺度上获得精准的移动; 5)全自动装样测角台(SPECPORTER):样品杆的插入拔出只需电钮即可全自动实现,彰显其便利性及安全性; 6)成熟的冷场发射技术:将JEOL应用在球差校正技术上的高端冷场发射技术移植到普通的场发射透射上,可获得更好的高分辨观察、更高效的成分分析和更好的化学结合状态分析; 7)双超级能谱设计:可安装双超级能谱,将普通电镜能谱的分析能力拓展到原子尺度; 8)节能减排:启用省电模式耗电量降低80%。

JEOL JEM-2800 高通量场发射透射电子显微镜

JEOL JEM-2800 高通量场发射透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-2800
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    JEM-2800是日本电子透射电子显微镜系列中的一款特殊设计的产品,在兼顾高分辨高稳定性的同时,最求分析效率的最大化和操作的自动化。颠覆传统的电镜外观设计,除了让人耳目一新外,还对设置环境更具抗干扰能力。 主要技术指标: 1. 点分辨率:0.21nm; 2. 晶格分辨率:0.1nm; 3. STEM 分辨率:0.16nm; 4. 二次电子分辨率:0.5nm; 5. 能谱:可以安装两个超级能谱 6. 洛伦兹模式:标配

冷场发射球差校正透射电镜

冷场发射球差校正透射电镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-ARM200F(C)
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    日本电子株式会社2010年7月最新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大增强了原子级观察和原子级分析能力。 在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s Applied Superconductivity Center, housed in the National High Magnetic Field Laboratory. 其后美国的Brookheaven国家实验室;欧洲各国;日本的东京大学、东北大学、名古屋大学、九州大学等;中国台湾的清华大学也开始纷纷采购这一设备。

原子分辨分析型透射电镜

原子分辨分析型透射电镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-ARM200F
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    技术参数:1.分辨率:STEM0.08 nm TEM0.19 nm (0.11 nm with TEM Cs corrector) 2.放大倍数:STEM 100 to 150,000,000x TEM50 to 2,000,000x 3.加速电压: 200 kV 4.球差校正器STEM Cs corrector Standard TEM Cs corrector Optional 5.其他附件EDS/EELS /CCD camera, etc.主要特点:原子分辨率S/TEM 标配照明系统的球差校正器,STEM分辨率 0.08 nm, 为世界最高的商业化透射电镜,同时使其具有无与伦比的分析功能。 极强的抗干扰能力和超高稳定性 JEM-ARM200F采用多种新技术和设计确保实现原子级的分辨率和分析能力。 可以选配成像系统的球差校正器 点分辨率可以提高到0.11 nm. 操作极为简单 克服了球差校正透射电镜难于操作的难题。

200kV场发射透射电子显微镜

200kV场发射透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-2100F
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    仪器简介:JEM-2100F应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 高亮度的场发射电子枪,轻松实现各种分析功能。 JEM-2100F最新设计的侧插式侧角台,在倾斜、旋转、加热、制冷时都不会造成机械飘移。 SJEM-2100F可与TEM,MDS,EDS,EELS,andCCD-camera实现一体化控制。 技术参数:1.点分辨率:0.19nm 2.线分辨率:0.14nm 3.加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV 4.倾斜角:25 5.STEM分辨率:0.20nm 主要特点:1.高亮度场发射电子枪。 2.束斑尺寸小于0.5nm。 3.新式侧插测角台,更容易倾转、旋转、加热和冷冻,无机械飘移。 4.稳定性好、操作简便。 5.微处理器和PC两套系统控制,防止死机。

JEOL JEM-2100Plus 200kV六硼化镧透射电子显微镜

JEOL JEM-2100Plus 200kV六硼化镧透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-2100Plus
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    仪器简介:JEM-2100Plus广泛应用于材料科学、纳米技术和生命科学等领域。JEM-2100Plus搭载 64位 Windows操作界面,操作更简单。并与STEM,EDS,CCD和EELS实现了一体化控制。JEM-2100Plus高度稳定性的测角台设计先进,非常适于包括3位重构在内的样品台倾斜。选用日本电子专用软件,可以轻松实现3D观察。压电陶瓷控制样品台也独步天下。TheJEM-2100Plus采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束,大大提高了分析和衍射成像能力。技术参数(UHR):1.点分辨率:0.19nm2.线分辨率:0.14nm3.加速电压:80, 100, 120, 160, 200kV4.倾斜角:25主要特点:1.五种极靴UHR、HR、HT、HC、CRYO2.稳定便捷的操作系统3.最小束斑尺寸:0.5nm4.良好的扩展性

日立L型 FIB-SEM-Ar 三束系统 NX9000

日立L型 FIB-SEM-Ar 三束系统 NX9000

  • 品牌: 日立
  • 型号: NX9000
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    -高亮度场发射电子枪冷 冷场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率的特点,使纳米量级分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有极大贡献。 -300kV高压系统 300kV高压系统具有更高的穿透能力,保证了厚样品的原子分辨率图像,降低了样品制备难度,尤其对于金属、陶瓷等高原子序数样品的观测十分有利。 -独特的分析能力 新引入了双重双棱镜全息摄影功能、高空间分辨率电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术等独特的分析技术。

日立新一代全数字化透射电子显微镜 HT7800

日立新一代全数字化透射电子显微镜 HT7800

  • 品牌: 日立
  • 型号: HT7800
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    HT7800具有优异的操作性与多样的自动功能,通过将CCD相机与显微镜主机的操作相统一,可以在显示器画面上轻松、简便地进行操作,高刷新率的CMOS荧光相机可以实现在明亮环境下操作,独特的双隙物镜可以实现高分辨率和高反差观察的一键切换,满足不同领域的需求。

日立新型高分辨率透射电镜 HT7830

日立新型高分辨率透射电镜 HT7830

  • 品牌: 日立
  • 型号: HT7830
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    HT7800具有优异的操作性与多样的自动功能,通过将CCD相机与显微镜主机的操作相统一,可以在显示器画面上轻松、简便地进行操作,高刷新率的CMOS荧光相机可以实现在明亮环境下操作,独特的双隙物镜可以实现高分辨率和高反差观察的一键切换,满足不同领域的需求。

日立球差校正透射电子显微镜 HF5000

日立球差校正透射电子显微镜 HF5000

  • 品牌: 日立
  • 型号: HF5000
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    HF5000作为一款球差校正冷场发射透射电镜,其分辨率达到了亚埃级,可以实现对样品的超细微观结构的观察和分析,适用于金属、陶瓷、半导体、纳米材料等的观察。同时,HF5000独特的TEM、STEM、SEM三位一体功能不仅可以实现对材料内部结构的研究,也可以获得材料表面的信息。原子级分辨率的二次电子探测器可以弥补TEM和STEM无法观察样品表面的缺陷,同时相比普通的SEM又具有更高的分辨率,可以满足样品表面高分辨形貌和结构观察的需求,与TEM和STEM形成互补。全自动化的球差校正过程又大大简化了球差校正透射电镜的使用难度,提高了观察效率,尤其适合测试平台和科研中心等用户。

日立场发射透射电子显微镜 HF-3300

日立场发射透射电子显微镜 HF-3300

  • 品牌: 日立
  • 型号: HF-3300
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    -高亮度场发射电子枪冷 冷场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率的特点,使纳米量级分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有极大贡献。 -300kV高压系统 300kV高压系统具有更高的穿透能力,保证了厚样品的原子分辨率图像,降低了样品制备难度,尤其对于金属、陶瓷等高原子序数样品的观测十分有利。 -独特的分析能力 新引入了双重双棱镜全息摄影功能、高空间分辨率电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术等独特的分析技术。

日立原位环境透射电子显微镜 H-9500

日立原位环境透射电子显微镜 H-9500

  • 品牌: 日立
  • 型号: H-9500
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    -高亮度场发射电子枪冷 冷场发射电子枪先天具有的高亮度和高能量分辨率的特点,使纳米量级分析研究成为可能,对超高分辨图像和电子全息摄影具有极大贡献。 -300kV高压系统 300kV高压系统具有更高的穿透能力,保证了厚样品的原子分辨率图像,降低了样品制备难度,尤其对于金属、陶瓷等高原子序数样品的观测十分有利。 -独特的分析能力 新引入了双重双棱镜全息摄影功能、高空间分辨率电子能量损失谱(EELS)和高精度平行纳米束衍射技术等独特的分析技术。

日立新型双束系统 NX2000

日立新型双束系统 NX2000

  • 品牌: 日立
  • 型号: NX2000
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    1.高分辨成像,高衬度成像分辨率:二次电子(3.5nm@1kV),二次离子(4nm@30kV); 2.可实时观察加工过程; 3.全自动TEM样品制备。

日立新型FIB系统 MI4050

日立新型FIB系统 MI4050

  • 品牌: 日立
  • 型号: MI4050
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    产品简介日立新型FIB系统 MI4050MI4050是高效率的聚焦离子束设备,它使用了全新的电子光学系统,具有世界领先的SIM图像分辨率,并且TEM样品制备效果优异。MI4050广泛用于截面观察、微电路修复、纳米图像制备和纳米沉积等。主要特点:1.高效率、高质量加工,二次离子分辨率:4nm@30kV2.高分辨、高衬度SIM成像3.全自动TEM样品制备4.大尺寸样品加工 应用领域:1.纳米材料微加工2.半导体及电子元器件材料3.生命科学

JEM-Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜

JEM-Z300FSC 场发射冷冻电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-Z300FSC
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统,能够在冷冻低温下观察生物大分子。样品交换系统内最多可以存储12个样品,可以任意取出和交换一个或数个样品,能灵活地进行测试排序。

JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜

JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-ARM200F NEOARM
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    “NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术(e-ABF法)可以更加简便地观察到含有轻元素样品的高清晰(衬度)图像。

JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜

JEM-Z200FSC 场发射冷冻电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-Z200FSC
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    场发射冷冻电子显微镜 JEM-Z200FSC CRYO ARMTM 200标配冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、液氮冷却样品台和12位自动样品更换系统。新设计的Ω能量过滤器与无孔位相板的完美组合,进一步提高了生物样品的衬度。

JEM-1400Flash 透射电子显微镜

JEM-1400Flash 透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-1400Flash
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    从生物技术到纳米技术、高分子和高新材料,JEM-1400Flash被广泛应用在多个领域,而且用途越来越广。其中,以生物领域为首的高分子材料研究、医疗品、病理切片、病毒、由荧光显微镜做过标记的样品等的观察,首先用低倍率确认细胞组织或材料结构、样品位置、观察区域的整体情况,再用高倍率详细观察感兴趣的微细结构。近年来,对于这一系列的观察程序的简单化和获取高通量数据快速化的需求越来越迫切。为了满足这些需求,新款120kV透射电子显微镜JEM-1400Flash配备了高灵敏度sCMOS相机、超大视野的蒙太奇系统以及与光学显微镜图像的联动功能。

JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜

JEM-3200FS 场发射透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-3200FS
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    JEM-3200FS场发射电子显微镜配备了最高加速电压为300kV的场发射电子枪(FEG)和镜筒内置式Ω型能量过滤器,能为广泛的研究领域提供各种全新的解决方案。

JEM-2100Plus 透射电子显微镜

JEM-2100Plus 透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-2100Plus
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    JEM-2100Plus电子显微镜,不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统,还增加了最新的控制系统,大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JEM-2100Plus性能优越,操作方便,简明易懂,在材料、医学、生物学等多个研究领域提供优异的解决方案。

JEM-1000 超高压透射电子显微镜

JEM-1000 超高压透射电子显微镜

  • 品牌: 日本电子
  • 型号: JEM-1000
  • 产地:日本
  • 供应商:捷欧路(北京)科贸有限公司

    由于超高压透射电子显微镜的加速电压很高电子波长很短,即使增大物镜极靴之间的间隙,也能获得高分辨率的图像。此外,电子束具有很强的穿透能力,即使厚样品也能观察到清晰的图像,这是超高压透射电子显微镜的最大优点。

日立透射电镜 HT7820

日立透射电镜 HT7820

  • 品牌: 日立
  • 型号: HT7820
  • 产地:日本
  • 供应商:天美(中国)科学仪器有限公司

    日立最新推出120kV透射电镜HT782机型,该机型继承了标准版HT7800高速CMOS荧光屏相机设计、全数字化、大集成等优点和创新点,仍然采用第二代双隙物镜的设计,设计使用高分辨物镜,标配LaB6灯丝,性能实现突破性提升。此机型分辨率可保证0.144nm(晶格像),广泛应用于生命科学、医学、纳米材料和软材料研究领域。主要特点广泛应用与纳米材料和软材料研究领域。1) 包括高分子聚合物在内的系列软材料,样品组成元素多为轻元素,高的加速电压下很难得到高衬度图像,在低的加速电压(120kV)下可以得到较为理想的图像。2) 高分辨物镜可保证0.144nm的分辨率,可满足用户对高分辨图像的要求。3) 在较低的加速电压下,仍保持较高的分辨率,在最大程度降低样品损伤的同时,获得高质量的高分辨图片。 主要技术参数分辨率晶格分辨率[0.144 nm(120 kV)、放大倍数Zoom×200~×300,000 (HC模式)x2,000~x800,000 (HR模式) Low Magx50~x1,000加速电压20~120 kV (100 V/step连续可调)视野旋转x1,000~x40,000 (HC模式)±90 ° 步长15 °样品台优中心测角马达台移动范围X、Y:±1 mm,Z:±0.3 mm最大倾斜角度±30 °主相机800万像素(纵:横 = 3:4) (可选其他相机)标准配置功能※2自动聚焦、自动轨迹记录、 自动马达驱动、自动拍照、自动电子枪对中、 实时FFT显示、测量 (手动/自动)、Low dose、API(自动预辐照功能)、 镜筒柔性烘烤、全视野图像导航(Whole View)、 自动漂移校正※2根据选配项,可能有变

低电压台式透射电子显微镜系统

低电压台式透射电子显微镜系统

Tecnai™ 透射电子显微镜

Tecnai™ 透射电子显微镜

  • 品牌: 美国FEI
  • 型号: Tecnai™
  • 产地:荷兰
  • 供应商:北京圣嘉宸科贸有限公司

    FEI推出的Tecnai 系列透射电子显微镜 (TEMs) 在为生命科学、材料科学和电子行业提供了真正完整的成像和分析解决方案。 Tecnai G2 系列拥有数种型号,结合了现代技术和创新科学和工程团体的紧迫需求。其中Titan G2 60-300 是适用于二维和三维材料表征和化学分析的功能最强大的高分辨率扫描透射式电子显微镜 (S/TEM),具备最宽的 60-300kV 加速电压范围,分辨率可提升至原子级,并且允许单台仪器完美结合 Cs校正、单色仪和 新颖的超稳定高亮度电子枪 (X-FEG),具有卓绝的 STEM 和 TEM 成像性能。技术参数:样品电子源 (kV)放大倍数样品台相机 长度 (mm)EDS 立体 角 (srad)Tecnai Osiris 20 - 200 kV 22 x - 930 kx (TEM) X = ± 1 mm Y = ± 1 mm Z = ± 0.375 mm 30 - 4,500 0.9Tecnai 30 50 - 300 kV 58 x - 970 kx (TEM) 100 x - 5Mx (STEM) X = ± 1 mm Y = ± 1 mm Z = ± 0.375 mm 80 - 5,600 0.13Tecnai F30 50 - 300 kV 58 x - 970 kx (TEM) 150 x - 230 Mx (STEM) X = ± 1 mm Y = ± 1 mm Z = ± 0.375 mm 80 - 5,600 0.13Tecnai Spirit 20 - 120 kV 18 - 650,000 (TEM) X、Y 移动 2 mm样品尺寸 3 mm n/a n/aTecnai Polara 50 - 300 kV 18 - 650,000 (TEM) X、Y 移动 2 mm样品尺寸 3 mm n/a n/a

透射电镜/透射电子显微镜招标信息

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